17 Oktober 2021

Diagram Kontrol Variabel : I-MR Chart

Kadangkala ukuran sampel yang digunakan perusahaan adalah sebesar 1 (n=1). Seringkali terjadi apabila pemeriksaan dilakukan secara otomatis dan juga terjadi pada tingkat produksi yang sangat lambat. Hal ini mengakobatkan timbulnya kesukaran untuk mengambil ukuran sampel lebih besar daripada 1. Perusahaan yang mengalami kondisi seperti ini misalnya pada pabrik kimia.


 Pembuatan peta kontrol I-MR (indiviadual Moving Average Range) ditetapkan pada proses yang menghasilkan output relatif homogen, misalnya dalam cairan kimia, kandungan mineral dari air, makanan dan lain-lain. Dapat pula diterapkan pada kasus-kasus di mana inspeksi 100% digunakan untuk proses produksi yang sangat lama. Formula Diagram kontrol I-MR Chart sebagai berikut :

Rumus I-MR Chart

Studi kasus : PT. ABCD merupakan perusahaan pembuat produk kimia. Untuk mengetahui kemampuan proses, Quality Control Departemen perusahaan melakukan pengukuran sebagai sampel. Hasil sampel yang diperoleh sebagai berikut :

Data kekentalan

Langkah Diagram Kontrol Variabel I_MR Chart dengan SPSS

  1. Klik Analyze > Quality Control > Control Chart
  2. Pilih Individual MOving Average Klik Define
  3. Masukan variabel kekentalan ke kolom Process Measurement
  4. Masukan variabel sampel ke kolom Subgroups define by
  5. Klik tombol Control Rule, pilih All control rules
  6. Klik Continue kemudian OK

Hasil Diagram kontrol variabel I-MR Chart dengan SPSS

Nilai individual kekentalan

Range nilai

Diagram pertama menggambarkan nilai individual dari kekentalan kimia dan diagram kedua menggambarkan range antara nilai tiap urutan nilai. Untuk tanda Rule violation : No berarti tidak ada out of control atau special cause variation, sehingga proses produksi dapat terus dijalankan karena proses produksi in control.

Baca juga :

1. Diagram kontrol Atribut : P Chart

2. Diagram kontrol variabel : X-Bar  S Chart

3. Diagram kontrol variabel : X-Bar R Chart

Referensi :

Montgomery, D. C. (2013). Introduction Statistical Quality Control 7th. New York : John Wiley & Sons.

Oakland, J and Oakland, R. (2019). Statistical Process Control 7th. New York : Rouledge.

Yamin, S dan Kurniawan,H.(2009). SPSS Complete :Teknik Analisis Statistik Terlengkap dengan Software SPSS. Jakarta : Salemba Infotek

Tidak ada komentar: