26 September 2021

Diagram Kontrol Variabel : X-Bar S Chart

Diagram kontrol X menjelaskan perubahan-perubahan yang terjadi pada ukuran-ukuran titik pusat atau rata-rata dari suatu proses. Hal ini dapat disebabkan oleh fakto-faktro seperti peralatan yang dipakai, perbedaan metode yang digunakan, penggunaan material baru, tenaga kerja baru yang belum terlatih dan lain sebagainya. 

 

 Rumus diagram kontrol variabel X-Bar S Chart sebagai berikut :

Rumus Diagram kontrol X Bar Chart

Contoh kasus : PT. Star Plywood merupakan perusahaan pembuat kayu lapis. Produksi plywood ditetapkan spesifikasi ketebalan dari produk kayu lapis itu sebesar 2,40 mm ±0.05 mm. Untuk mengetahui kemampuan proses dan mengendalikan proses produksi, maka Departemen Quality Control melakukan pengukuran terhadap 20 sampel, masing-masing (n) 5 unit. Data diperoleh sebagai berikut :

Data input

Langkah Diagram Kontrol Atribut S Chart dengan SPSS

  1. Klik Analyze > Quality Control > Control Chart
  2. Pilih X-Bar R Chart, S klik Define
  3. Masukan variabel tebal kayu lapis ke kolom Process Measurement
  4. Masukan variabel sampel ke kolom Subgroup define by
  5. Klik tombol Control Rule, pilih All control rules
  6. Klik Continue kemudian OK

Hasil Diagram kontrol variabel X-Bar S Chart dengan SPSS

Rata-rata ketebalan Plywood

Range proses variasi

Nilai kontrol limitnya adalah 

  1. Kontrol limit X Bar adalah LCLx sebesar 2,3543, Center line 2,3886 dan UCLx sebesar 2,4229
  2. Kontrol limit standar deviation adalah LCLs = 0,000, center line 0,0253 dan UCLs sebesar 0,0529.

Pada diagram diatas menunjukan bahwa out of control atau terjadi special cause terlihat pada sampel 15 (diagram X bar) dan sampel 20 pada diagram standar deviasi. Oleh karena itu perlu dilakukan pemberhentian proses produksi dan dicari penyebab-penyebabnya.

Baca juga :

1. Kontrol Atribut : U Chart

2. Kontrol Chart Atribut : P Chart

3. Kontrol Chart Variabel : I-MR Chart

Referensi :

Montgomery, D.C.(2013). Introduction Statistical Quality Control 7th. New York : John Wiley & Sons.

Oakland, J and Oakland, R.(2019). Statistical Process Control 7th. New York : Rouledge.

Yamin, S dan Kurniawan,H.(2009). SPSS Complete :Teknik Analisis Statistik Terlengkap dengan Software SPSS. Jakarta : Salemba Infotek.

Tidak ada komentar: